De microscoop van Nikon MA200

Toegepast op microstructurele observaties in de materiaalwetenschap voor de analyse en beoordeling van materialen zoals metalen, keramiek en polymeren.
De unieke kubische microscopen bieden oplossingen voor onderzoek en ontwikkeling en kwaliteitsborging toezicht in de automotive materiaalgerelateerde industrie.
Ondersteuning voor helder veld, donker veld, differentiële interferentie, fluorescentie, eenvoudige polarisatie en andere waarnemingsmethoden, met compacte structuur, gemakkelijke bediening, uniforme verlichting, heldere beeldvorming, energiebesparing, duurzaamheid en andere kenmerken.

Belangrijkste kenmerken
1, kubusontwerp, ruimtebesparing, hoge seismische weerstand
De ECLIPSE MA200 bespaart 33% ruimte in vergelijking met de TME300, en dit nieuwe ontwerp verbetert de bedienbaarheid van het instrument effectiever en vermindert tegelijkertijd de schade die de gebruiker kan veroorzaken door langere observaties.
Onbeperkte correctie optisch systeem CFI60
Het CFI60-optische systeem produceert scherpe, heldere, hoge resolutie en hoge contrasten en verlaagt de flitser tot een lager niveau. Het 1x-objectief van dit ontwerp kan een zichtgebied van 25 mm in diameter observeren en maakt het ook mogelijk om monsters die in hars zijn begraven, volledig te observeren. donker gezicht, DIC、 Ook fluorescentie- en polarisatieobservaties kunnen worden uitgevoerd. Daarnaast kunnen de speciaal ontworpen transmissiekolommen meerdere transmissieobservaties uitvoeren.
3, gemakkelijk te bedienen
De delen die vaak moeten worden bediend, zijn geconcentreerd in de buurt van de waarnemer, namelijk voor de microscoop. Bijvoorbeeld: zichtveld licht apens, apertuur licht apens, polarisator, polarisator, inspectieplaat plugging en helder donker veld schakelen enz.
4. digitale beeldverbinding
Het monitoringssysteem van de lens-converter verzendt de afbeeldingsinformatie die het objectief krijgt via de besturingseenheden van de digitale camera's DS-L2 en DS-U2. De afbeeldingsgrootte wordt automatisch aangepast op de computer afhankelijk van de aanpassing van de vergrotingsveelvoudige van de microscoop.
Deze aanpassing van de digitale afbeeldingsvergroting wordt automatisch uitgevoerd en vermindert fouten tot een minimum.
DS-L2 type onafhankelijke display controller (beeldgegevens kunnen worden opgeslagen op de U-schijf),
DS-L2
De DS-U2-computeraansluitingscontroller moet worden gebruikt met NIS Elements-software.
DS-U2
Digitale beeldopname (optioneel)
De splicing-functie van Nikon's beeldsoftware NIS-Elements maakt het mogelijk om grotere afbeeldingen te splitsen en te analyseren. De automatische meetfunctie in de NIS-Elements-software maakt deeltjesanalyse van metaal mogelijk. Bovendien kunnen de deeltjesmetingssoftware van Metalo en de gietijzersoftware de grootte van gietijzer en deeltjes automatisch analyseren op basis van ASTM en JIS.
Gebruik de functies van NIS Elements software om naadloze puzzels van microbeelden te realiseren;
Met behulp van de functies in de NIS Elements-software kunnen materialen worden geanalyseerd, zoals korrelgrootteanalyse, grafitisatieanalyse van inktgoten ijzer enz.
Nikon omgekeerde metalfase microscoop MA200 objectief CFI LU PLAN FLUOR EPI:
Vergrotingsveelvoudig 5X; numerieke apertuur (NA) 0,15; Werkafstand (W.D.) 23.5mm
Vergroting van de veelvoudige 10X; numerieke apertuur (NA) 0,30; Werkafstand (W.D.) 17.5mm
Vergroting veelvoudig 20X; numerieke apertuur (NA) 0,45; Werkafstand (W.D.) 4.5mm
50X vergroting; numerieke apertuur (NA) 0,80; Werkafstand (W.D.) 1.0mm
100X vergroting; numerieke apertuur (NA) 0,90; Werkafstand (W.D.) 1.0mm