WeibangHAST hogedruk versnelde veroudering testkast:De Engelse naam Highly Accelerated Stress Test Chamber wordt gebruikt om een ​​versnelde verouderingstest uit te voeren in een omgeving waarin de chip hoge temperatuur, hoge vochtigheid en hoge druk simuleert, om de betrouwbaarheid en levensduur van de chip in de kortste tijd te testen, waardoor de kwaliteit en betrouwbaarheid van het product wordt verbeterd.

► De eerste in de industrie met een testbereik van tot 4KG,

► Automatische doosdeur ontwerp, knop controle doosdeur open, met eigen drukbescherming,

► Ingebouwde PID-regelalgoritme voor nauwkeurigheid van temperatuur, vochtigheid en drukwaarden

► Compatibel met constant natte hitte (HAST) en hoge druk stoom (PCT) tests voor onverzadigde hogedrukstoom,

Voldoet aan de testnormen：

AEC Q101 (standaardchip)

JIS C0096-2

GB/T2423.40-1997 Omgevingsproef voor Elektrotechnisch en Elektronisch Producten Deel 2: Testmethode Cx: Constante natte hitte van onverzadigde hogedrukstoom

IEC60068-2-66-1994 Milieutests. Deel 2-66: Testmethoden. Test Cx: stabiele natte hitte

Levensduur van de temperatuur- en vochtigheidsverschuiving van de JESD22-A100-cyclus

JESD22-A101 Stabiele temperatuur, vochtigheid / afwijking, levensduur test (temperatuur, vochtigheid, afwijking levensduur)

JESD22-A102 hogedrukstoomtest (versnelde anti-vochtige penetratie)

JESD22-A108 Temperatuur, afwijkingsspanning en levensduur

JESD22-A110 HAST hoogversnelde temperatuur- en vochtigheidsspanningstest

JESD22-A118 temperatuur en vochtigheid zonder bias spanning hoge versnelde spanning experiment UHAST (zonder bias spanning onverzadigde hogespanning stoom)

* Kan worden aangepast aan elke specificatie parameters niet-standaard model