Auto verfproces

● Het uiterlijk van het instrument maakt gebruik van het verfproces van de auto en maakt gebruik van een elegante combinatie van wit en blauw, die de fusie van technologie en mode van het instrument toont.

Visualiseren van het monsterplaats

● Het steekproefvenster maakt gebruik van loodglas, het steekproef kan rechtstreeks worden gecontroleerd tijdens het testproces.

Testen van meerdere monsters

● Continue test van meerdere monsters, onbewaakt, bespaart uw kostbare tijd.

• Optionele monstertest.

Korte analysetijd

Korte analysetijd in vergelijking met EDXRF;

Normale EDXRF-analysetijd: 300 seconden, HeLeeX E9-analysetijd: 60 seconden.

Vacuüm/helium dubbele lichtweg

● De eerste in- en buitenlandse, vacuüm / helium-gas duale optische weg systeem, kan detecteren vaste, vloeistof, poeder monsters, lichte elementen, zoals Al, Si, P, S, Cl.

Stralingsbescherming

● doolhof ontwerp, loodglas bescherming;

Röntgenstraling achter de buis;

Misbruik van het noodsysteem, 0,5 uS snel snijden van röntgenstralen;

Rapporten over de radioveiligheid van instrumenten uitgegeven door nationale autoriteiten.

Eenvoudig te hanteren

De onderkant van het instrument beschikt over vier bewegende wielen die kunnen worden bevestigd of verplaatst als nodig.

Het gewicht van het instrument is 95 kg;

Makkelijk te vervangen

● De monstertestfilm is gemakkelijk te vervangen;

● Modulaire rectifier, filtersysteem, afhankelijk van verschillende klanten, verschillende testmonsters zijn uitgerust met verschillende materialen met verschillende orificeringsregelaars.

Eenvoudig te bedienen

• De software interface is eenvoudig, eenvoudig te bedienen en kan in 30 minuten worden geleerd;

● Uitrust met een flowchart voor de werking van het instrument, de werking van het instrument en het onderhoud van het instrument zijn eenvoudiger;

De gegevens zijn nauwkeuriger

● De software is uitgerust met drie soorten softwarealgoritmes, afhankelijk van de configuratie van verschillende materialen;

● Onafhankelijk onderzoek en ontwikkeling van hoge en lage energie-onafhankelijke algoritmes om de resolutie van lage energie-elementen effectief te verbeteren;

Gewone EDXRF-resolutie: 149eV, HeLeeX E9-resolutie: 125eV;

Uitstekende analyse van lichte elementen

Testen van P en S met hogere resolutie.

De standaardafwijking van het S-element is 20 ppm.

Testfouten van 5%.